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            日本Kenko-Tokina KT-M1020D、KT-M1021D、KT-M1022D光源選型指南

            發(fā)布時間:2025-05-16 點擊量:224

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            日本Kenko-Tokina的可調(diào)波長光源系列(KT-M1020D、KT-M1021D、KT-M1022D)憑借其鹵素?zé)艄庠磁c線性可變?yōu)V波器(LVF)技術(shù),在工業(yè)檢測領(lǐng)域廣泛應(yīng)用。三款產(chǎn)品雖屬同一系列,但在功能迭代、硬件配置和應(yīng)用場景上存在顯著差異。本文將從核心參數(shù)、功能特性、適用場景等維度進(jìn)行對比分析,為選型提供參考。

            一、核心參數(shù)對比

            型號KT-M1020DKT-M1021DKT-M1022D
            波長范圍1250~2500nm(未明確實際范圍)推測介于M1020D與M1022D之間1250~2200nm(實際使用范圍)
            波長分辨率25nm/mm(理論值)未明確更高精度控制(LVF優(yōu)化)
            控制接口PC軟件控制為主未明確D-sub15P遙控接口(支持模擬調(diào)光輸入、遠(yuǎn)程關(guān)閉)
            光圈調(diào)節(jié)φ1~φ3.0機械可變未明確固定光圈(標(biāo)準(zhǔn)化設(shè)計)
            電源輸入AC90~130V未明確AC90~110V(更寬泛兼容性)

            二、功能特性差異

            1. 波長控制能力

              • KT-M1020D:作為基礎(chǔ)升級版,支持通過PC應(yīng)用程序設(shè)定任意波長,并可通過設(shè)備端直接操作,適用于硅片背面圖案觀察、食品異物檢測等常規(guī)場景。

              • KT-M1022D:LVF波長分辨率更高(理論值25nm/mm),實際覆蓋1250~2200nm波段,尤其適合短波紅外(SWIR)成像,可結(jié)合SWIR相機實現(xiàn)高精度材料內(nèi)部無損檢測(如樹脂容器透明度檢查)。

              • KT-M1021D:具體參數(shù)未公開,推測在波長范圍或接口靈活性上介于前兩者之間,可能針對特定行業(yè)(如電子元件或化工)優(yōu)化。

            2. 硬件配置

              • 光源與功率:三款均采用鹵素?zé)簦?biāo)準(zhǔn)12V/100W,可選15V/150W),燈泡壽命標(biāo)準(zhǔn)為1000小時(高功率模式縮短至50小時)。

              • 光纖配件:KT-M1022D標(biāo)配1米紅外光纖,兼容性更強3,而KT-M1020D需額外選配。

              • 散熱與防護(hù):KT-M1022D優(yōu)化了散熱設(shè)計,工作溫度范圍更穩(wěn)定(0~40℃),適合長時間高負(fù)荷檢測。

            3. 軟件兼容性

              • KT-M1022D配套軟件支持更靈活的波長校準(zhǔn)與多任務(wù)編程,可通過CD-ROM快速部署檢測方案。

              • KT-M1020D依賴基礎(chǔ)PC控制軟件,功能擴展性有限。

            三、應(yīng)用場景推薦

            1. 基礎(chǔ)檢測需求

              • 推薦型號:KT-M1020D
                適用場景:食品異物篩選、樹脂材料分類、膜厚測量等基礎(chǔ)工業(yè)檢測。優(yōu)勢在于成本較低,操作簡單,適合預(yù)算有限或檢測精度要求中等的用戶。

            2. 高精度工業(yè)分析

              • SWIR波段檢測:結(jié)合短波紅外相機,用于不透明材料內(nèi)部缺陷識別(如藥品包裝密封性檢測)。

              • 復(fù)雜光譜分析:如半導(dǎo)體晶圓內(nèi)部結(jié)構(gòu)成像、化工材料變質(zhì)判斷。
                其高波長分辨率(25nm/mm)和遙控接口(D-sub15P)可滿足自動化產(chǎn)線集成需求6。

              • 推薦型號:KT-M1022D
                適用場景:

            3. 特定行業(yè)定制

              • 推薦型號:KT-M1021D
                適用場景:電子元件表面劃痕檢測、化工原料成分分選等需要特定波長組合的領(lǐng)域。需聯(lián)系供應(yīng)商(如深圳秋山工業(yè))獲取定制化參數(shù)支持。

            四、選型決策建議

            1. 預(yù)算與功能平衡

              • 若預(yù)算有限且檢測需求簡單,KT-M1020D性價比

              • 若需高精度或長期自動化部署,KT-M1022D的硬件擴展性和軟件兼容性更優(yōu)。

            2. 兼容性驗證

              • 確認(rèn)現(xiàn)有設(shè)備接口(如是否需D-sub15P遙控),避免二次開發(fā)成本。

              • 檢查檢測目標(biāo)的波長敏感范圍(如食品檢測常用可見光波段,而SWIR需≥1000nm)。

            3. 供應(yīng)商服務(wù)

              • 三款產(chǎn)品起訂量均為≥100臺,參考價約¥12,000起,但具體成交價需通過合同協(xié)議確定15。

              • 建議要求供應(yīng)商提供試用支持,驗證實際場景匹配度。

            五、總結(jié)

            KT-M1020D、KT-M1021D、KT-M1022D的核心差異在于波長控制精度、硬件擴展性及場景適配能力。用戶需根據(jù)檢測目標(biāo)的物理特性(如材質(zhì)透光率、缺陷尺寸)、產(chǎn)線自動化程度及預(yù)算綜合決策。對于高復(fù)雜度檢測(如SWIR成像),KT-M1022D是選擇;而中小型企業(yè)可優(yōu)先考慮KT-M1020D,逐步升級至型號。


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